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Secondary ion mass spectrometry and low-energy ion scattering of II-V semiconductor hetero-structures

Laserna-Vázquez, José Javier; Padilla, D.; Vadillo-Pérez, José Miguel (Sociedad Española de Química Analítica, 2013)

Comunicación oral presentada durante la XVIII reunión de la Sociedad Española de Química Analítica y VI reunión Nacional de la Sociedad Española de Espectrometría de MAsas