- RIUMA Principal
- Listar por autor
Listar por autor "Vázquez Peralta, Javier"
Mostrando ítems 1-2 de 2
-
Caracterización de grietas de fatiga mediante difracción de rayos X sincrotrón
Vázquez Peralta, Javier (UMA Editorial, 2019)En este trabajo se presentan 2 metodologías para estimar el Factor de Intensidad de Tensiones (SIF) usando datos de difracción de rayos X sincrotrón del interior de materiales opacos. Primero, se presenta una estrategia ... -
Study of the stress intensity factors in the bulk of the material with synchrotron diffraction
López-Crespo, Pablo; Vázquez Peralta, Javier; Simpson, C; Moreno-Morales, María Belén; Buslaps, T; Withers, Philip J.[et al.] (Engineering Integrity Society, 2017)In this work we present the results of a hybrid experimental and analytical approach for estimating the stress intensity factor. It uses the elastic strains within the bulk obtained by synchrotron X-ray diffraction data. ...